新拓電器

主要規格

掃描器行程 : 20x20x1.5µm、100x100x15µm(選配)、150x150x5µm(選配)
掃描參數自動調整 : RealTune(點、線、面)
樣品尺寸 : 35mm直徑、50mm直徑(選配)
光學顯微鏡 : 200~1500倍縮放式 (無段式1~7倍手動縮放，光學解析度達 1um)
                    200~2800倍金像顯微鏡(選配)
探針偵測方式 : 雷射光槓桿式 (搭載新世代SLD低光擾紅外光雷射)
隔音與防震機制 : 落地型氣浮防震桌 (重達230公斤)
                            高階金屬隔音罩 (全金屬厚重設計附隔音棉)


組成架構
 
AFM100Plus 組成架構 : AFM100 本體 + 高倍率同軸光源顯微鏡 + 隔音罩 + 防震桌






 
量測功能

標準量測 : AFM/DFM形貌量測、Phase功能、MFM、FFM、Force curve
標準進階量測 : SIS mode、SIS-Phase、SIS-Property (如 SIS-CUrrent、SIS-PRM ... 等)
探針Q控制 : Active Q
選配 : KFM (AM/FM雙模式)、EFM、PRM、SSRM、SCM、Conductive-AFM、ElectroChemistry、ViscoElastic、SIS-Access、SIS-QuantiMech  ... 等
溫度控制 : RT至250度C(選配)
環境控制 : 氣密式循環控制槽(選配)
液相控制 : RT至60度C(選配)

 
應用

大氣下多功能之高解析量測用途，用戶可於未來添購選用配件以升級成 AFM100Pro 超解析版本
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