特點
1. 可於每個畫素點蒐集力譜 (Force curve) 資訊，並擷取力譜中各項物理資訊，並進行成像化
2. 最多可以輸出八組成像訊號，包括形貌、吸附力、形變、楊氏模量、電流 .... 等
3. 採用正統 Nano Indentation 直上直下的探針壓印方式，非採用邊橫向掃描邊蒐集力譜訊號，能有效降低 Indentation 受形貌干擾的效應
4. 楊氏模量的擬合可採用 DMT、Hertz、JKR .... 等方式
5. 具備雙重模式的探針彈性係數校正機制
6. 具備探針針尖半徑計算功能
適用機種
1. AFM100 系列
2. AFM5300E
3. AFM5500M
應用
1. 高分子材料
2. 塑橡膠
3. 生醫材料
4. 光電材料
