說明
在 Tapping mode 模式下，探針品質因子 ( Q ) 的大小對於 Phase 為量測基礎的模組如 MFM、EFM、Phase mode 來說，扮演非常重要的角色特別式在提升訊號靈敏度這方面，但 Q 值受限於探針懸臂的幾何形狀結構而被固定下來，因此我們可以藉由電子化控制方式來將探針的 Q 值作自由的提升或降低。
用途
1. 提升形貌量測安定性，特別是軟物質樣品
2. 增加 Phase mode、MFM、EFM 之訊號靈敏度
3. 使液相量測中的探針靈敏度獲得提升 ( 增加 Q 值 )
4. 降低真空中探針的 Q 值以提升量測安定性
1. 提升形貌量測安定性，特別是軟物質樣品
2. 增加 Phase mode、MFM、EFM 之訊號靈敏度
3. 使液相量測中的探針靈敏度獲得提升 ( 增加 Q 值 )
4. 降低真空中探針的 Q 值以提升量測安定性
適用機種
AFM100 系列 與 AFM5300E
AFM100 系列 與 AFM5300E
