Hitachi 獨家專利的 SIS-Phase 跳點式相位偵測功能，能有效解決傳統 Tapping Phase 的形貌干擾問題，有助於協助客戶釐清相位訊號差異之處是否真來自於材質本身所貢獻? 還是形貌干擾所造成? SIS-Phase 將提供客戶最高可信度的表面材質差異分析的功能!
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