2019-03-25
日本原廠人員田村慶太經理將於4月中旬來台拜訪，主要議題為真空電性發展現況與第三代 SNDM / SCM 開發
真空對於 SCM、C-AFM 與 SSRM 電性量測具有提昇空間解析度與數據再現性的優點，已有越來越多的國際期刊發表相關的研究，而 Hitachi AFM5300E 具備 25 年的開發技術與日系製作工藝，提供客戶最佳的選擇!
2018-10-01
日立 CL 系列掃描器於2018年列為日本政府經濟產業省列為高科技出口管制項目，如用戶需添購此項部件需備妥相關申請文件，詳情請聯繫業務承辦人員
CL (Closed-Loop) 系列掃描器系指 CL-110N (AFM5100N)、CL-15E (AFM5300E)、CL-100E (AFM5300E) 三種型號之掃描器部件。有鑒於其包含高科技定位技術成分，日本經濟產業省於 2018 年將其列入高科技出口管制項目
2018-07-01
新拓將廣告贊助107年中國材料科學年會暨50週年慶，歡迎有興趣者參考官網 https://www.mrst2018.fcu.edu.tw/
材料年會為國內材料界每年最重要的學術會議，全國從事與材料研究相關的系所、公司及研發機構皆將與會，逾一千位以上的學者專家及博、碩士班研究生出席，發表論文或聆聽演講，是一個相互交換經驗及交流的絕佳時機
2018-05-01
Hitachi 發表白光干涉 3D 輪廓顯微鏡 VS1000 系列
白光干涉 3D 輪廓儀具備大範圍掃描功能，優勢在於速度快並可將表面粗糙度量化，而日立新開發之 WLI 技術可量測高深寬比結構，以及量測多層膜結構間氣泡與異物的分層解析。
2017-11-01
[原廠公告] SPA-400 機種將於2019年2月中止服務
SPA-400 一般型 AFM 機種發展於 2000 年，迄今已逾 17 年歷史，日本原廠宣告將於 2019 年 2 月中止相關零附件的供應與維修服務，惟客戶有重大需求請與敝司負責之維修人員聯繫。另有同級機種 AFM5100N 可供選擇，敝司另有老客戶優惠方案 !
2017-11-01
[原廠公告] NanoNavi 控制器將於2018年1月中止服務
NanoNavi 第一代控制器發展於 2005 年，迄今已逾 12 年歷史，日本原廠宣告將於 2018 年 1 月中止相關零附件的供應與維修服務，惟客戶有重大需求請與敝司負責之維修人員聯繫。
