最新消息

2019-01-15

2018-12-25

2018-10-01

CL (Closed-Loop) 系列掃描器系指 CL-110N (AFM5100N)、CL-15E (AFM5300E)、CL-100E (AFM5300E) 三種型號之掃描器部件。有鑒於其包含高科技定位技術成分，日本經濟產業省於 2018 年將其列入高科技出口管制項目

2018-07-01

材料年會為國內材料界每年最重要的學術會議，全國從事與材料研究相關的系所、公司及研發機構皆將與會，逾一千位以上的學者專家及博、碩士班研究生出席，發表論文或聆聽演講，是一個相互交換經驗及交流的絕佳時機

2018-06-30

2018-05-01

白光干涉 3D 輪廓儀具備大範圍掃描功能，優勢在於速度快並可將表面粗糙度量化，而日立新開發之 WLI 技術可量測高深寬比結構，以及量測多層膜結構間氣泡與異物的分層解析。

2017-11-01

SPA-400 一般型 AFM 機種發展於 2000 年，迄今已逾 17 年歷史，日本原廠宣告將於 2019 年 2 月中止相關零附件的供應與維修服務，惟客戶有重大需求請與敝司負責之維修人員聯繫。另有同級機種 AFM5100N 可供選擇，敝司另有老客戶優惠方案 !

2017-11-01

NanoNavi 第一代控制器發展於 2005 年，迄今已逾 12 年歷史，日本原廠宣告將於 2018 年 1 月中止相關零附件的供應與維修服務，惟客戶有重大需求請與敝司負責之維修人員聯繫。

2017-09-01

為便利 AFM 既有客戶在 AFM 之教育訓練，日本原廠將免費提供教學與講解影片供用戶免費索取，內容包括 AFM 原理、影像處理、延伸功能 .... 等，請洽本公司索取光碟。

2017-07-10

歡迎日立HHS 代表取締役岡田社長蒞臨新拓顯微鏡新北中和辦公室參訪，並致贈感謝狀與紀念獎盃。