原子力顯微鏡（afm）屬於掃描探針顯微技術的一支，afm此類顯微技術都是利用特製的微小探針，來偵測探針與樣品表面之間的某種交互作用，如穿隧電流、原子力、afm磁力、近場電磁波等等，然後使用一個具有三軸位移的壓電陶瓷掃描器，afm使探針在樣品表面做左右前後掃描（或樣品做掃描），afm並利用此掃描器的垂直微調能力及迴饋電路，讓探針與樣品問的交互作用在掃描過程中維持固定，由於STM侷限於試片的導電性質，afm使得應用範圍大大的減少，afm為了能有更廣泛的應用科用，故改用力場作回饋而發展出原子顯微儀，afm而因為對導體及絕緣體均有三維空間的顯影能力，afm所以成為運用最廣泛的掃描探針顯微儀。
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